2026年5月13日，由冶金工业信息标准研究院主办、深圳市八六三新材料技术有限责任公司承办的《纳米技术  一维纳米材料基本结构的表征 高分辨透射电子显微镜法》国家标准审定会在深圳顺利召开。来自全国14家纳米材料生产企业、科研院所和检验机构的30余名专家参加了此次会议。

会议现场

透射电子显微镜（TEM）是纳米材料表征和分析的关键重要工具，可以进行样品的形貌分析，包括原子尺度TEM/STEM成像、原子尺度的晶体结构等。GB/Z 21738—2008《一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法》自发布以来，在指导纳米银线、碳纳米管等一维纳米材料的研发、生产及在显示、半导体等方面的应用等方面发挥了重要的作用。 随着纳米技术科研与产业的不断发展，GB/Z 21738—2008中技术内容越来越难以适应纳米材料，尤其是半导体器件等行业对中纳米材料表征中的严格要求。

由深圳技术大学负责修订本指导性技术文件GB/Z 21738—2008并转化为国家标准GB/T 21738《纳米技术  一维纳米材料基本结构的表征 高分辨透射电子显微镜法》，本次修订修改了“标准的范围”，“一维纳米材料、准一维纳米材料、高分辨透射电子显微镜法等的术语和定义”，“TEM相关参数”，“纳入FIB等设备”等技术内容。本国家标准的修订将为纳米材料，尤其是一维纳米材料的结构表征提供了规范性指导，为纳米领域相关产业健康发展起到积极的推动作用。